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美国泛美38DL PLUS超声波测厚仪- 详细介绍：
美国泛美38DL PLUS超声波测厚仪
38DL PLUS超声测厚仪主要应用是：测量那些受腐蚀或侵蚀的管道、管件、箱体、压力容器、外壳及其他结构的剩余厚度。这些应用中最常使用的是双晶探头。
主要特点：
可与双晶和单晶探头兼容。
宽泛的厚度范围：0.08毫米～635毫米，根据材料和所选探头而定。
使用双晶探头进行腐蚀测厚。
穿透涂层和回波到回波测量功能，用于测量表面带有漆层和涂层的材料。
内部氧化层/沉积物软件选项。
对于所有探头，标准分辨率为0.01毫米。
使用频率范围2.25 MHz～30 MHz的单晶探头，高分辨率软件选项可进行分辨率为0.001毫米的厚度测量
多层软件选项可对多达4个不同层同时进行测量。
高穿透软件选项用于测量纤维玻璃、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料。
厚度、声速和渡越时间测量。
差分模式和缩减率模式。
时基B扫描模式；每次扫查可获得10000个可查读数。
带有数字式过滤器的Olympus高动态增益技术。
用于自定义V声程补偿的V声程创建功能。
设计符合EN15317标准。
可用右手或左手单手操作的简洁的键区。
可直接访问所有功能的简便易行的操作界面。
内置和外置MicroSD存储卡。
USB和RS-232通讯端口。
可存储475000个厚度读数或20000个波形的字母数字式数据记录器。
可连接计算机或显示器的VGA输出。
默认或自定义双晶探头设置。
默认或自定义单晶探头设置。
密码保护功能可以锁住仪器的功能。
